DSA8300
Catalogue
DSA8300 샘플링 오실로스코프
업계 최고 수준인 450 fs RMS 미만의 기본지터. 최고의 TDR 대역폭. 가장 빠른 S-파라미터 측정 기능. 포괄적인 광통신 표준을 지원하는 환벽한 고속 물리 계층 테스트 플랫폼 입니다.
모델 |
아날로그대역폭 |
샘플링속도 |
레코드길이 |
데이터시트 |
DSA8300 |
DC -70 GHz |
300 kS/s |
50 Point 3.2M 지점 |
|
특징 |
장점 |
업계 최저의 노이즈 플로어 (450fs)와 업계 최고의 수직 분해능 (16비트)를 제공하는 트루 디퍼런셜 채널 최대4개 지원 |
높은 분해능과 낮은 노이즈로 뛰어난 신호 가시성을 제공하는 측정 시스템에서 트루 디퍼런셜 TDR 자극 신호를 사용하여 반도체 및 백플레인/커넥터 디자인의 특성을 정확하게 분석 가능. |
원격 샘플링 헤드를 사용한 고대역폭 (50 GHz) TDR(Time Domain Reflectometry)의 정밀 TDR 기능 |
원격 샘플링 헤드를 사용하여 TDR 헤드를 테스트 대상 장치에 가까이 근접시킴으로써 프로브, 케이블, 픽스쳐의 영향을 최소화 하고, 12 ps의 스텝으로 1mm 수준까지 임피던스 불연속을 분석 가능. |
155 Mb/s에서 100 Gb/s의 모든 표준 속도에 대응하는 대역폭, 감도, 노이즈 성능, 반사 손실을 제공하는 광학 모듈 |
155 Mb/s에서 40 ~ 100 Gb/s를 초과하는 ITU, 이더넷 디자인의 정확하고 반복 가능한 특성화. |
직렬 데이터 네트워크, 직렬 데이터링크, 지터 / 노이즈 분석용 소프트 웨어 패키지 옵션 |
하나의 계측기에 시간 및 주파수 영역 분석 기능이 통합되어 테스트 비용이 절감됩니다. 신호 경로를 정확히 분석하여 신호 crosstalk 및 지터를 예측하여 안정적인 시스템 작동을 보장할 수 있습니다. 지터, 노이즈, BER 분석을 통해 아이 클로저(eye-closure)의 정확한 원인을 판단할 수 있음. |
완벽히 통합된 패턴 동기화 트리거링 |
가장 까다로운 디지털 / 로직 패턴에 대응하는 고속 트리거 기능이 통합되어 정확한 캡처를 보장. |
면밀하게 통합된 클럭 복구 기능으로 정확한 아이 다이어그램 분석 가능 |
완전 통합형 클럭 복구 기능 또는 클럭 복구 트리거 픽오프를 지원하며, 텍트로닉스 또는 타사 클럭 복구 계측기와 함께 사용하면 155 Mb/s ~ 100 Gb/s의 신호 작업을 지원하는 켈리브레이션 완료 솔루션이 구축. |
- DSA8200과 DSA8300 샘플링 오실로스코프 간의 프로그래머블 인터페이스 교체
- GPIB와 TekVisa에서 프로그래머블 인터페이스(PI) 주석의 변화를 요약해 놓은 파일입니다.
- 고속 상호 연결: 특성 분석 및 측정 기반 모델링
- 고속 상호 연결의 측정 문제를 다룬 입문서 입니다.
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- 최신의 높은 작동 주파수에서 신호의 상승 시간, 펄스 폭, 타이밍, 지터 또는 노이즈 콘텐츠에 영향을 주는 것은 시스템 차원의 신뢰성에도 영향을 줄 수 있습니다.
- 직렬 데이터 적합성 및 검증 측정의 기본
- 직렬 데이터 전송의 일반적인 사항 및 최신 직렬 기술의 아날로그 / 디지털 측정 요구조건에 대해 설명합니다.
P6150 |
9 GHz 패시브 프로브: 매우 높은 품질의 20 GHz 프로브 팁과 매우 유연한 SMA 케이블로 구성되어 있습니다. 더 높은 주파수 성능이 필요하시다면, 015-0560-00 또는 목록에 있는 다른 액세서리 케이블이 함께 사용 가능함. |
P8018 |
20 GHz 싱글-엔드 TDR 프로브. 정전기 방지를 위해 80A02 모듈이나 TDR 모듈이 권장됨. |
P80318 |
18 GHz 100 Ω 디퍼런셜 임피던스 TDR 핸드 프로브. |
80A03 |
두 개의 텍트로닉스 P7000 시리즈 TekConnect™ 프로브를 DSA8300 또는 DSA8000 시리즈 샘플링 오실로스코프에서 사용 가능함. |
P7513/P7516 |
13 GHz 및 16 GHz TriMode™ 디퍼런셜 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요. |
P7260 |
6 GHz Active FET 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요. |
P7350 |
5 GHz Active FET 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요. |
P7350SMA |
5 GHz 50 Ω 디퍼런셜-to-싱글 엔드 액티브 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요. 샘플링 목적으로는 높은 대역폭과 신호 충실도 때문에P7350 프로브 보다는 P7380 프로브가 권장됨. |
P7380SMA |
8 GHz 50 Ω 디퍼런셜-to-싱글 엔드 액티브 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요. |
80A02 |
DSA8300 EOS/ESD 프로텍션 모듈(1 채널). P8018 TDR 프로브 권장. |
80A03 |
TekConnect 프로브 인터페이스 모듈. |
82A04 |
낮은 지터 획득을 위한 페이즈 레퍼런스 모듈(트리거와 함께 또는 없이) 2 GHz 에서25 GHz까지 신호 가능 (외부 필터는 8GHz 이하로 요구될 수 있음 / 옵션60G를 사용할 경우 60GHz까지 가능). |
80A05 |
일렉트릭 클럭 리커버리/클럭 리커버리. 일렉트릭 신호에 적용 가능 및 80C12와 사용. |
80A06 |
80SJB 지터 분석 패키지를 위한 패턴 싱크 모듈. 223 길이 까지 트리거 펄스 패턴을 생성할 수 있는 프로그램 가능한 분배기. |
80A07 |
일렉트릭 클럭 리버버리 모듈: For all of the most common electrical standards in the continuous 100 Mb/s to 12.5 Gb/s range. |
80E01 |
샘플링 모듈, 50 GHz. |
80E03 |
샘플링 모듈, Dual, 20 GHz. |
80E04 |
샘플링 모듈, 듀얼, TDR 기능을 가진 20 GHZ 일렉트릭 샘플링 모듈. |
80E06 |
샘플링 모듈, 70+ GHz. |
80E07 |
샘플링 모듈, Dual, 30 GHz. |
80E08 |
리모트(remote) 샘플링 모듈,듀얼 채널, 트루 디퍼런셜 TDR의 30 GHZ 일렉트릭 모듈. |
80E09 |
샘플링 모듈; Dual, 60 GHz. |
80E10 |
리모트(remote) 샘플링 모듈, 듀얼 채널, 트루 디퍼런셜 TDR의 50 GHZ 일렉트릭 모듈. |
80C07B |
옵틱 샘플링 모듈; 2.488 GB/S OC48/STM16,2.500 GB/S 2GBE,2.500 GB/S 인피니밴드,2.5 GHZ 옵틱 대역폭. |
80C08C |
옵틱 샘플링 모듈; 9.953/10.31 GB/S 10 GBE,10.51875 GB/S 10GFC, 10.664 GB/S G.975, 10.71 GB/S G.709,11.1 GB/S 10 GBE FEC; 10 GHZ 옵틱 대역폭. |
80C10B |
옵틱 모듈; 39.813/43.018 GBPS/80 GHZ. |
80C11 |
옵틱 샘플링 모듈; 9.953/10.31/10.52/10.66/10.71/11.1 GB/S; 28 GHz Optical Bandwidth |
80C12 |
넓은 파형 길이(700 to 1650 nm) 멀티-레이트 옵틱 샘플링 모듈로 1G, 2G, 4G, 및 8G 텔레컴 및 데이터컴 테스트 지원. |
80C25GBE |
65 GHz full bandwidth integrated and selectable reference receiver filtering. Enables conformance testing for 27.739G and 25.781G rates. |
IConnect? MeasureXtractor™ |
신호 무결성 TDR 및 S-파라미터 분석 소프트웨어. |
80SJNB |
지터, 노이즈 및 BER 분석 소프트웨어. |